氧化和还原退火对GE/LA
作者:Henkel,C,Hellstr.m,P e和``斯特林,M
出版:2011年
网页链接:http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=6044231
作者:Sinha,Godhuli,Depero,Laura E和Alessandri,Ivano
出版:2011年
作者:Shen,J,Zhang,C Y,Xu,t t,Jiang,A N,Zhang,Z Y,Wang,S和Chen,Q。
出版:2011年
网页链接:http://linkinghub.elsevier.com/retrieve/pii/s0040609011012144
通过纳米化 - 薄AL2O3涂层的原子层沉积,LIMN2O4阴极增强了环齿的性能
作者:Guan,D,Jeevarajan,J A和Wang,Y
出版:2011年
网页链接:http://pubs.rsc.org/en/content/articlehtml/2011/nr/c0nr00939c
通过温度依赖电子传输研究对染料敏化太阳能电池的纳米多孔TiO2表面缺陷的表征
作者:Shanmugam,M和Baroughi,M。F.
出版:2011年
网页链接:http://journals.cambridge.org/abstract_s1946427411013145
通过Al2O3涂层的原子层沉积,LIMN2O4阴极增强了环齿
作者:Guan,D,CAI,C和Wang,Y
出版:2011年
网页链接:http://ieeexplore.ieee.org/xpls/abs_all.jsp?arnumber=5754875
将hrtem?eels纳米分析与电容测量值结合在一起,以评估高?薄膜存放在Si和GE作为未来门的候选人?
作者:Schamm-Chardon,S,Coulon,P E和Lamagna,L
出版:2011年
网页链接:http://www.sciendirect.com/science/article/pii/s0167931710003722