Veeco的加热视口防止在分子束外延（MBE）系统中涂覆光学端口，从而使用常规观点无法匹配的原位监测技术，实现晶体生长的连续，实时反馈控制。加热的视口使实验室能够避免使系统通知以清除涂覆传统观点的材料。

• Veeco加热视口防止MBE系统中的光端口涂覆，使用原位监测技术提供晶体生长的连续实时反馈控制
• 比传统的未加热视口更可靠，随着时间的推移而变得涂有材料
• 无需将系统排出到从视口中清洁涂层
• 视口可以从室温加热至> 500°C
• 可选的桌面直流电源，配有半机架或全架安装套件，可用于更具灵活性
• 电源包括7M完全可触及的电缆