纺丝盘，共聚焦计量
2009年5月26日的纽约州Plainview - Veeco Instruments Inc.Veeco的新VCM分析器提供了一种紧凑且易于使用的非接触式计量解决方案，用于需要从陡坡，高表面粗糙度或透明层下方采集数据采集的应用。VCM Profiler Systems基于旋转光盘架构，并采用白光作为激励源，比竞争的共焦系统更快，更准确和可重复的测量。
“Veeco具有强大的遗产，提供了各种配置的世界级白光光学分析器，从台式模型到全自动生产地板系统，”博士·米克斯，博士·米克斯，博士道，执行副总裁。，Veeco Metrology。“我们的新VCM共聚焦显微镜继续这种可扩展的白光光学仪器传统，为我们的研究和行业客户提供了一套计量选项，用于困难的样本要求和各种子毫米应用。”
Andrew Masters，Veeco的销售和业务发展副总裁，补充道，“我们的VCM Profiler Line提供了在同一熟悉的显微镜平台上提供定量3D共焦测量，客户利用BrightField，Darkfield和差分干扰对比（DIC）技术。”
关于VCM光学分析器系统
Veeco的VCM系列共聚焦显微镜允许150,200或300毫米的旅行，并且可以配置为手动或自动操作。我们的VCM系统软件提供了一系列的计量学和3D成像工具，并从经济手动操作到高通量，全自动样品定位和数据采集，满足先进的研究，开发和工业需求。可选的拼接界面使缝合多个数据集简单和自动化，提供了需要更大视野的特征的高分辨率成像。
关于Veeco.
Veeco Instruments Inc.为HB-LED，太阳能，数据存储，半导体，科学研究和工业市场的客户提供支持解决方案。vwin官方网站我们在我们的三个业务中拥有领先的技术职位：LED和太阳能处理设备，数据存储过程设备和计量仪器。Veeco的制造和工程设施位于纽约，新泽西州，加利福尼亚州，科罗拉多州，亚利桑那州，明尼苏达州和马萨诸塞州。全球销售和服务办公室位于美国，欧洲，日本和APAC。//www.theljp.com/
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