高分辨率材料映射的新定量AFM模式
纽约州Plainview，（美国商业资讯） - 2008年6月2日 - 韦科·仪器公司（Deeco Instruments Inc.（AFM）高分辨率纳米级成像和分析的技术。VEECO的Harmonix纳米级材料属性映射使AFM用户可以实时获得高分辨率图像以及高分辨率的定量材料属性图。现在可以在由新的纳米镜（R）V控制器供电的所有VEECO扫描探针显微镜上获得Harmonix模式，包括多模（R）V，Dimension（TM）V和Bioscope（TM）II。
VEECO的Nano-Bio AFM业务副总裁David Rossi评论说：“ Harmonix是SPM技术的重大突破，并为以前不可能的速度和分辨率开放了定量材料的特征。我们的产品科学家和工程学。团队与哈佛大学罗兰研究所的Ozgur Sahin博士合作，开发并将这项新的专利技术推向市场。成千上万的出版物已经引用了Veeco的AFMS，我们相信，从Veeco获得的Harmonix代表了一个主要的飞跃前进为了使我们的客户进一步的科学发现。”
VEECO开发科学家Bede Pittenger博士补充说：“ Harmonix为AFM用户提供了同时捕获材料特性的定量图，例如弹性，粘附，耗散和峰值力。比当前可用的力技术要大的幅度，并且具有相同水平的高分辨率，我们的客户习惯了Veeco的TappingMode（TM）。”
关于Harmonix
VEECO的纳米镜v显微镜控制器和专有探针提供了速度，信号水平和处理能力，以实时渲染前所未有的高分辨率数据。Harmonix每次AFM尖端在TappingMode中与表面相互作用时，通过测量悬臂的扭转和弯曲运动来获得实时力曲线。专有算法会立即计算尖端敲击表面时发生的力曲线，并分析它们以获得多个样品特征。然后将这些材料特性渲染在与样品地形图像相关的图像图中。这些图是定量的，可以直接追溯到要成像的样品的弹性模量。要了解有关Harmonix的更多信息，并观看有关其工作原理的视频，请访问//www.theljp.com/harmonix-pr。
关于Veeco
Veeco Instruments Inc.在HB LED，太阳能，数据存储，半导体，科学研究和工业市场中为客户制造启用解决方案。vwin官方网站我们在三个业务中拥有领先的技术职位：LED和太阳能过程设备，数据存储过程设备和计量仪器。Veeco的制造和工程设施位于纽约，新泽西州，加利福尼亚，科罗拉多州，亚利桑那州和明尼苏达州。全球销售和服务办事处都位于美国，欧洲，日本和亚太地区。//www.theljp.com/
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联系人：计量营销传播Karen Gertz，805-967-2700 X2412资料来源：Veeco Instruments Inc.